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簡要描述:日本日立 手持式光譜儀X-MET8000 是一款手持式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀,可提供快速無損的分析以及準確的牌號識別,實現(xiàn)理想的質(zhì)檢和質(zhì)保。
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日本日立 手持式光譜儀
X-MET8000 是一款手持式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀,可提供快速無損的分析以及準確的牌號識
別,實現(xiàn)理想的質(zhì)檢和質(zhì)保。
該分析儀將高性能 X 光管和大面積硅漂移探測器 (SDD) 結(jié)合在一起,能夠為客戶提供各種質(zhì)量檢驗 應(yīng)用。
借助 X-MET8000,您可在數(shù)秒內(nèi)得到實驗室質(zhì)檢 結(jié)果,并降低檢測成本,縮短檢測時間。
分析結(jié)果值得您信任
X-MET8000 *美結(jié)合了通用的基本參數(shù) (FP) 方法和經(jīng)驗 系數(shù)法(可溯源的標準物質(zhì)),可提供超高的分析精密度 和準確度。
性能優(yōu)異
該分析儀提供對輕元素(Mg 到 S)的出色分析,可快 速測試大多數(shù)商業(yè)用合金,包括鋁合金、硅和鋁青銅 等。其提供低檢測限制,可準確區(qū)別相近牌號(例如 303-304、6061-6063),并可在數(shù)秒內(nèi)得到實驗室質(zhì) 檢結(jié)果。
易于操作
直觀的圖標驅(qū)動式用戶顯示意味著操作員幾乎不需任 何培訓(xùn)。該分析儀擁有便于快速制定決策的可自定義 結(jié)果屏幕,同時顯示您所需的重要信息。
該分析儀具備輕便性(1.5 千克),采用了符合人體工 學(xué)的設(shè)計,因此操作舒適,適合日常使用。屏幕方便 操作員閱讀,即使在陽光直射下也不受影響,且可在 穿戴手套的情況下操作。
準確
樣品尺寸自動補償,可準確測試直徑小至 1 毫米的管材、 桿體、線材,以及焊縫、緊固件、車削下腳和碎屑等。
日本日立 手持式光譜儀
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